韩国科学技术院（KAIST）科研团队开发出一种超高速照相测量技术，通过将脉冲宽度为100飞秒（1/1000万亿分之一秒）的光脉冲分成大约1000种颜色，并使用不同颜色的脉冲来精确测量像素之间的高低差，在0.26GPixel/S像素填充率下的测量精度为330pm，能够捕捉到半导体元器件中的微观运动和结构，有助于探索此前从未观察到的复杂物理现象。
科研团队表示，该测量技术仅需3.47ms即可测量分辨率为1024x882像素、宽度为6.4mm、高度为2.4mm的区域，下一步将继续优化提高该技术的检测速度。此项研究成果发表在国际期刊《Light：Science and Application》上。
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