BT imaging将在2014 SNEC展会上针对硅片、电池厂商和光伏研发人员推出两项新软件升级产品，可协助获得硅片与电池资讯，并降低成本、提升电池效率。
这个系列的新软件升级产品分别是：可用于线下 PL 检测设备的 LIS-R2，和线上 PL 检测设备的 QS-W2。LIS-R2 软件升级着重于提供硅片和电池的资讯给研发者和工程师。QS-W2则着重于帮助硅片和电池厂商减少成本和提升电池效率。
BT imaging 的执行长Ian Maxwell 说道：“我们一向把每年上海 SNEC 展会当成光伏界重要的事件来对待，也很高兴 SNEC 展会的时间恰好是我们想发布我们新产品的时间。从过去的SNEC 展会开始，我们就致力于提升我们现有的产品。我们将要类比展示的新软件升级产品是我们多年研发的成果。我们认为客户们会对这些新升级软件感到非常兴奋。”
除了这些新软件以外，BT imaging 也会在展会中展示现有的两款稳定的产品 LIS-R2 和 QS-W2。LIS-R2 是顶级的线下实验室测量设备，擅长测量硅锭、硅片、电池和元件。此产品集合了多种测量功能于一身，并且容易使用，适合用于研发、品质检测、全程品质监控、工艺除错、工艺改良和试运行。产品 QS-W2 是PL 硅片线上检测系统，是相当有效的硅片分选和效率预测设备。
第八届 SNEC 国际太阳能产业及光伏工程展将于五月20日至22日于上海举行，BT imaging的展位位于 E3 大厅225号。
免责声明：本网转载自其它媒体的文章，目的在于弘扬科技创新精神，传递更多科技创新信息，宣传国家科技政策，展示国家科技形象，参与国际科技舆论竞争，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，在此我们谨向原作者和原媒体致以崇高敬意。如果您认为本网文章及图片侵犯了您的版权，请与我们联系，我们将第一时间删除。
